晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
表盘式粘度计
性能与特点：·为中国市场用户专门研发的便宜的数字显示黏度计 ·美国原装进口，兼具品牌的所有优秀品质及性能 ·具有精确的测量性，可靠的性能和服务质量 ·全中文操作面板标识,操作简便,打开开关, 转动旋钮即可进行测量
SFY-20A豆柏饲料快速测水仪
1、检测速度快,只需几分钟，测量准确； 2、体积小、重量轻，用途广泛；3、操作简单，全自动测试；4、显示部分采用红色数码管显示5、具有与打印机连接功能（可选配件）。
KETT水分计
Riceter-f提高了以往测定部位的耐久性，并使显示文字更为清晰。此外，该设备已成为国际品质系统ISO9001的认证对象，这也是一种品质保证中内含的功能。
JW-004氮吸附比表面积测定仪
本机可以同时应用两种方法测定比表面积，用"直接对比法"与JW-04型完全相同，还可应用BET方法，以定量体积的氮气为标样，通过BET方程求出被测样的比表面积。这种方
应力双折射系统WPA-200
应力双折射测量系统WPA-200可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。
