产后康复治疗仪价格
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晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
新产品wsf-j分光测色仪(可选配配色软件)
WSF-J分光测色仪是一种性能优越、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色,可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/8。它可以显示可见光波段(380nm~760nm)中物体或液体的反射比与透射比,可给出物体或液体反射色与透射色的光谱曲线,大大方便了对物体色彩的分析。该仪器可广泛用于纺织、染料、印染、涂料、油漆、造纸、建材、食品、印刷等行业。
水分测定仪
MB45卓越型快速水分测定仪采用卤素灯加热,升温迅速,加热均匀;清晰的液晶显示,智能化的软件设计,人性化的键盘布局,使操作过程简单直观;同时具备测量精度高、重复性好的特点,确保称量结果的可靠性;同时符合GLP规范的打印设定和数据输出。
便携式静摩擦系数测试仪
检测触摸屏、触摸屏的摩擦,评价其滑动效果。● 检测布料的摩擦,评价衣物的舒适度。● 鼠标与鼠标垫之间的移动效果,检测鼠标垫的摩擦。● 检测桌面材料的摩擦,以免桌面太滑。● 检测各种纸、薄膜和纤维制品的表面摩擦。
卷对卷式柔性LB膜分析仪
具有柔性镀膜,刚性镀膜,垂直镀膜,水平镀膜功能。卷对卷式柔性LB膜分析仪仪器用于在较长的柔性基底(如保鲜膜式柔性带状基底)上连续沉积单分子薄膜,也可把大尺寸刚性衬底粘接在皮带上进行镀膜,可进行无限多次LB薄膜沉积,可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转,沉积X,