产后康复治疗仪价格
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晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
新产品wsf-j分光测色仪(可选配配色软件）
WSF-J分光测色仪是一种性能优越、用途广泛而又操作简便的测色仪。适用于测量各种物体的反射色及透射色，可以测试色度、白度以及两种物体或液体的色差等。仪器的照明接收方式为CIE规定的d/8。它可以显示可见光波段（380nm~760nm）中物体或液体的反射比与透射比，可给出物体或液体反射色与透射色的光谱曲线，大大方便了对物体色彩的分析。该仪器可广泛用于纺织、染料、印染、涂料、油漆、造纸、建材、食品、印刷等行业。
水分测定仪
MB45卓越型快速水分测定仪采用卤素灯加热，升温迅速，加热均匀；清晰的液晶显示，智能化的软件设计，人性化的键盘布局，使操作过程简单直观；同时具备测量精度高、重复性好的特点，确保称量结果的可靠性；同时符合GLP规范的打印设定和数据输出。
便携式静摩擦系数测试仪
检测触摸屏、触摸屏的摩擦，评价其滑动效果。● 检测布料的摩擦，评价衣物的舒适度。● 鼠标与鼠标垫之间的移动效果，检测鼠标垫的摩擦。● 检测桌面材料的摩擦，以免桌面太滑。● 检测各种纸、薄膜和纤维制品的表面摩擦。
卷对卷式柔性LB膜分析仪
具有柔性镀膜，刚性镀膜，垂直镀膜，水平镀膜功能。卷对卷式柔性LB膜分析仪仪器用于在较长的柔性基底（如保鲜膜式柔性带状基底）上连续沉积单分子薄膜，也可把大尺寸刚性衬底粘接在皮带上进行镀膜，可进行无限多次LB薄膜沉积，可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转，沉积X,